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過酷環境向け製品

ルネサスの製品開発手法は、軍事および航空宇宙産業の主要サプライヤーとして、困難な環境で最も高い基準の信頼性と性能を満たす製品設計経験を反映しています。

製造と試験に関する情報

ルネサスの製品開発手法は、軍事および航空宇宙産業の主要サプライヤーとして、困難な環境で最も高い基準の信頼性と性能を満たす製品設計経験を反映しています。

低線量率イオン化照射が半導体に与える影響は、宇宙機器にとって重要な課題となっています。 ルネサスは、現在の高線量率耐性試験に対する補完としてウエハごとの低線量率耐性試験を行なうことにより、この市場に対応しています。

ルネサスは、数社しかないRHA国防補給庁(陸および海) QMLサプライヤの1社です。 ルネサスの耐放射線SMD製品はすべてMIL-PRF-38535/QMLに準拠し、バーンイン試験に100%合格しています。

カテゴリ

過酷環境RS-485/RS-422シリアルインターフェース
バランス通信規格に対応したESD保護トランスミッタ/レシーバ
過酷環境ハーフ、フルブリッジ、三相FETドライバ
PWMモータ制御やUPSシステム用途に最適なドライバ
過酷環境向けA/Dコンバータ
FemtoCharge™技術に対応した低消費電力A/Dコンバータを標準CMOSプロセスで実現
過酷環境向けSAR A/Dコンバータ
軍事規格「QML Class Q」に準拠した12ビットA/Dコンバータ
過酷環境向けコンパレータ
モノリシック、クアッド、高精度コンパレータによる正確かつ高速な信号レベル検出
過酷環境向けサンプル&ホールドコンバータ
高精度・高速データ収集システム向けサンプル&ホールドアンプ
過酷環境向けスイッチ/マルチプレクサ/クロスポイント
広い入力電圧範囲にわたって優れた性能を発揮するデバイス
過酷環境向けデジタルコントロールポテンショメータ(DCP)
抵抗素子とCMOSスイッチの組み合わせで実現するシングル、デュアル、クアッドDCP
過酷環境向けデータ通信IC
データ通信アプリケーション用レシーバ、ラインドライバ、エンコーダ・デコーダ
過酷環境向けトランジスタ・アレイ
共通モノリシック基板上に誘電的に絶縁された5つのトランジスタを配置したデバイス
過酷環境向けマイクロプロセッサおよび周辺機器
宇宙・苛酷環境用マイクロプロセッサおよび周辺機器
過酷環境絶縁型PWMスイッチング・コントローラ
ブースト、フライバック、および絶縁出力構成のシングルエンド、電流モードコントローラ
酷環境向けアンプ
過酷な環境下でも最高の信頼性と性能を発揮するアンプ

プロダクトセレクタ: 過酷環境向け製品

パラメトリック製品セレクタを使用してカタログ上の製品を検索してみてください。パラメータ毎に スペックを比較することでお客様の設計に適した製品が表示されます。

プロダクトセレクタ

ドキュメント

分類 タイトル 日時
カタログ PDF 5.02 MB
アプリケーションノート PDF 341 KB
2件

ビデオ&トレーニング

Are Your ICs Ready for the Real Space Environment?

Over the past 19 years, the space industry has placed a higher value on understanding the effects that long-term, low dose radiation can have on ICs. Intersil's radiation testing specialist Nick van Vonno discusses why this shift has occurred and what we are doing to address this change.

Transcript

There are many different types of radiation, and indeed Intersil addresses two of these. Intersil addresses total dose testing which is basically gamma rays. Okay, and at both high and low dose rate, as we'll get into later. Intersil also addresses single event effects of a fairly broad range, and those are typically addressed by heavy ion testing.

Low dose rate testing, you have to contrast this really in order to understand this. You have to look historically at how total dose testing which is done with gamma rays, how that's been performed. Historically this has been performed at what we call high dose rate, and typically to put this in some numbers, that would run somewhere in the range of 50rad to 300rad/s.

Low dose rate, on the other hand, is a much, much slower dose rate. The generally accepted number, and the one we perform our work in, is 0.01rad/s. You see how far that's away from 300rad a second. And that can also be expressed as 10mrad/s if you'd like.

Now why are we goofing with that? And the answer is that the low dose rate is what happens in space. Dose rates in space are almost uniformly low to the order of 10mrad/s. Low dose rate radiation testing has been a, let's call it a hot topic in silicon advanced research since about 1992, okay? In 1992, some researchers out at Mich research came up with a very unusual finding which showed that certain parts that looked very good at high dose rate degrade with amazing rapidity, orders and orders of magnitude, worse at low dose rate. And so, that was not a fully intuitive result, and indeed it had to be repeated, and in the intervening 19 years there is a very large amount of work that's been done on low dose rate effects. And, as we've learned about how different parts react in low dose rate, we've, as an industry, we've swung over more towards a low dose rate testing emphasis rather than a high dose rate testing emphasis.

ツール&リソース