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概要

説明

The Intersil HCTS20MS is a Radiation Hardened Dual 4-Input NAND Gate. A low on any input forces the output to a High state. The HCTS20MS utilizes advanced CMOS/SOS technology to achieve high-speed operation. This device is a member of radiation hardened, high-speed, CMOS/SOS Logic Family. The HCTS20MS is supplied in a 14 lead Ceramic flatpack (K suffix) or a SBDIP Package (D suffix).

特長

  • 3 Micron Radiation Hardened SOS CMOS
  • Total Dose 200K RAD (Si)
  • SEP Effective LET No Upsets: >100 MEV-cm2/mg
  • Single Event Upset (SEU) Immunity < 2 x 10-9 Errors/Bit-Day (Typ)
  • Dose Rate Survivability: >1 x 1012 RAD (Si)/s
  • Dose Rate Upset >1010 RAD (Si)/s 20ns Pulse
  • Latch-Up Free Under Any Conditions
  • Military Temperature Range: -55°C to +125°C
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL ICs
  • DC Operating Voltage Range: 4.5V to 5.5V
  • LSTTL Input Compatibility
  • VIL = 0.8V Max
  • VIH = VCC/2 Min
  • Input Current Levels Ii ≤ 5µA at VOL, VOH

製品比較

アプリケーション

ドキュメント

分類 タイトル 日時
データシート PDF 369 KB
カタログ PDF 467 KB
価格変更のお知らせ PDF 360 KB
その他資料
製品アドバイザリ PDF 499 KB
製品変更通知 PDF 230 KB
6件

設計・開発

モデル

ECADモデル

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Diagram of ECAD Models

製品選択

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