概要
説明
外観検査、非破壊検査を目的としたAI検査システムのコアとなるソフトウェアプラットフォームです。RZ/Vシリーズと組み合わせることにより、製造工場や設備点検、物流倉庫における検査の省力化を実現します。
画像
特長
- 2000万画素以上の高解像度画像から微小な欠陥を検出
- 縮小なしで高解像度画像を扱えるため微小な欠陥も見逃さずに検出
- 3D画像（DICOM形式）に対してAI推論を実行することが可能
- スライス画像から欠陥を検出し、３Dに再構成して欠陥の位置や領域を可視化
- PoCから本番運用までシームレスに活用可能
- PoCから活用できるためAI性能を担保した状態でスムーズなシステム構築が可能
製品比較
アプリケーション
- 外観検査
- 非破壊検査
- 異常検知
- 保守保全
- 出荷検品
- 生育監視